LEEM-10A เครื่องมือทดลองของลักษณะทางแยก PN

คำอธิบายสั้น:

บทนำ

คุณสมบัติทางกายภาพของจุดเชื่อมต่อเซมิคอนดักเตอร์ PN เป็นหนึ่งในเนื้อหาพื้นฐานที่สำคัญของฟิสิกส์และอิเล็กทรอนิกส์เครื่องมือนี้ใช้วิธีการทดลองทางกายภาพเพื่อวัดความสัมพันธ์ระหว่างกระแสการแพร่ของรอยต่อ PN กับแรงดัน พิสูจน์ว่าความสัมพันธ์นี้เป็นไปตามกฎการแจกแจงแบบเอ็กซ์โพเนนเชียล และวัดค่าคงที่โบลต์ซมันน์ (หนึ่งในค่าคงที่ที่สำคัญทางฟิสิกส์) ได้แม่นยำยิ่งขึ้น ซึ่งช่วยให้ ให้นักเรียนเรียนรู้วิธีใหม่ในการวัดกระแสอ่อนอุปกรณ์นี้มีตัวควบคุมอุณหภูมิแบบสลับฮีตเตอร์เพื่อวัดความสัมพันธ์ระหว่างแรงดันจุดเชื่อมต่อ PN กับอุณหภูมิทางอุณหพลศาสตร์ T เพื่อให้ได้ความไวของเซ็นเซอร์ และค่าประมาณเพื่อให้ได้ช่องว่างพลังงานของวัสดุซิลิกอนที่ 0Kเครื่องมือนี้มีความเสถียรและเชื่อถือได้ และมีเนื้อหาการทดลองทางกายภาพมากมาย แนวคิดที่ชัดเจน การออกแบบโครงสร้างที่เหมาะสม และผลการวัดที่มีความแม่นยำสูงเครื่องมือนี้ใช้เป็นหลักในการทดลองทางกายภาพทั่วไปและการทดลองวิจัยการออกแบบในวิทยาลัยและมหาวิทยาลัย

ส่งอีเมล์ถึงเรา

รายละเอียดผลิตภัณฑ์

แท็กสินค้า

การทดลอง

1. วัดความสัมพันธ์ระหว่างกระแสการแพร่กระจายของจุดเชื่อมต่อ PN และแรงดันจุดเชื่อมต่อ และความสัมพันธ์นี้จะต้องพิสูจน์ว่าเป็นไปตามกฎหมายการแจกแจงแบบเอ็กซ์โพเนนเชียลผ่านการประมวลผลข้อมูล

2. ค่าคงที่ Boltzmann วัดได้แม่นยำยิ่งขึ้น (ข้อผิดพลาดจะน้อยกว่า 2%);

3. เรียนรู้การใช้แอมพลิฟายเออร์ในการดำเนินงานเพื่อสร้างตัวแปลงแรงดันกระแสเพื่อวัดกระแสไฟอ่อนจาก 10^-6A ถึง 10^-8A;

4. วัดความสัมพันธ์ระหว่างแรงดันจุดเชื่อมต่อ PN กับอุณหภูมิ และคำนวณความไวของแรงดันจุดต่อกับอุณหภูมิ

5. ค่าประมาณเพื่อคำนวณช่องว่างพลังงานของวัสดุเซมิคอนดักเตอร์ (ซิลิกอน) ที่ 0K

ดัชนีทางเทคนิค

1. แหล่งจ่ายไฟ DC

แหล่งจ่ายไฟ DC แบบปรับได้ 0-1.5V;

แหล่งจ่ายไฟ DC 1mA-3mA ที่ปรับได้

2. โมดูลการวัด LCD

อัตราส่วนความละเอียดจอ LCD: 128×64 พิกเซล

สองตัวบ่งชี้แรงดันไฟฟ้าช่วง: 0-4095mV, อัตราส่วนความละเอียด: 1mV

ช่วง: 0-40.95V, อัตราส่วนความละเอียด: 0.01V